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JIS R1661
  • JIS R1661:2004 pdfダウンロード。ファインセラミックスイオン伝導体の 導電率測定方法 Method for conductivity measurement of ion-conductive fine ceramics 1. 適用範囲 この規格は,イオン輸率が0.99以上のファインセラミックスイオン伝導体の高温における体積イオン導電率の測定方法について規定する。適用できる導電率の範囲は,1〜1 000 S/mとする。 2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状:輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメータ JIS B 7502 マイクロメータ JIS B 7507 ノギス JIS K 8019 亜硝酸ナトリウム(試薬) JIS K 8562 硝酸ナトリウム(試薬) JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語 JIS R 1601 ファインセラミックスの曲げ強さ試験方法 JIS R 1634 ファインセラミックスの焼結体密度・開気孔率の測定方法 JIS Z 8401 数値の丸め方 JIS Z 8703 試験場所の標準状態 3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS R 1600によるほか,次による。 a) イオン伝導 電荷担体がイオンである電気伝導。 b) 電子伝導 電荷担体が電子(又は正孔)である電気伝導。 c) イオン輸率 イオン導電率及び電子(正孔)導電率の和である全導電率に対するイオン導電率の比。 d) イオン伝導体 電気伝導が主としてイオン伝導による物質。この規格では、イオン輸率が0.99以上のものを指す。 なお,イオン輸率が0.5以上で定義される領域をイオン伝導領域,0.99以上で定義される領域を電解伝導領域という。 e) 交流4端子方式 試験片に四つの電極を付与し,外側の二つを電流端子といい,交流を印加する。内側の二つを電圧端子といい,この間に発生する交流電流を測定し,導電率を求める方法。 f) 可逆性電極 印加電流の大きさに十分追従するほど速やかに電荷担体のイオン種を試験片へ注入又は試験片から除去することができる電極。 g) ボード線図 横軸に測定周波数の対数,縦軸にインピーダンスの絶対値の対数及び位相をプロットしたもの。 h) 共通モード電圧 交流4端子方式の測定において,二つの電圧端子(図2のHp, Lp)と測定の基準点(図2のLc)との間に発生する振幅及び位相を同一とする電圧(この規格の測定では,図2のLp-Lc端子間の電圧に相当する。)。 4. 試験片 4.1 形状及び寸法 試験片は製品から切り出すか,又は別に作製した試験片を用いる。別に作製する場合は,製品を代表できるようなもので,製品と同一条件で製造されたものでなければならない。その寸法は,JIS R 1601で規定する形状及び寸法(4 mm×3...
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