JIS Z4329:2004 pdfダウンロード

JIS Z4329:2004 pdfダウンロード。放射性表面汚染サーベイメータ Portable radiation surface contamination meters and monitors
1. 適用範囲
この規格は，物体表面上のα線放出核種，又は最大エネルギー60 keV以上のβ線を放出するβ線放出核種による汚染密度を測定する放射性表面汚染サーベイメータ又は警報付き放射性表面汚染サーベイメータ（以下サーベイメータという。）について規定する。 なお，サーベイメータは，検出器と計測部とを含み，検出器は測定装置をケーブルなどによって接続されるか，又は測定装置に内蔵される。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60325:2002, Radiation protection instrumentation -Alpha，beta and alpha/beta (beta energy >60 keV) contamination meters and monitors (MOD) 2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-2:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test が，この規格と一致している。
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第3節：放射無線周波電磁界イミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-3:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity testが，この規格と一致している。
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第4節：電気的ファストトランジェント／バーストイミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-4:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4:Testing and measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第5節：サージイミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-5:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement techniques−Surge immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第6節：無線周波電磁界によって誘導された伝導妨害に対するイミュニティ
備考 IEC 61000-4-6:1996 Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-6: Testing and measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fieldsからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4001 原子力用語 備考 ISO 921:1997 Nuclear energy−Vocabulary, IEC 60050-393 :1996 International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393及びIEC 60050-394:1995 International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4334 放射性表面汚染計校正用線源 備考 ISO 8769:1988 Reference sources for the calibration of surface contamination monitors−Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emittersからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 8103 計測用語 IEC 61000-4-11 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11:Testing and measuring techniques−Voltage dips, short interruption and voltage variations immunity tests 3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
a) 有効測定範囲 (effective range of measurement) サーベイメータがこの規格の性能を満たす測定範囲。
b) 検出器の入射窓面積 (A) (sensitive area of the detector) α線又はβ線が検出器に実際に入射できる部分の面積。保護格子の部分を含む。
c) 表面放出率 (surface emission rate) 線源の表面又は線源窓から放出する単位時間当たりのα粒子又はβ粒子の数。
d) 線源効率 (source efficiency) 線源（飽和層厚さ以上の線源は飽和層厚さ）の中で，単位時間当たりに放出する同じ種類の放射線の粒子数に対する表面放出率の比。
e) 機器効率 (εi) (instrument efficiency) 標準線源に対して一定の幾何学的条件で測定したときの，α線又はβ線表面放出率に対するサーベイメータの正味計数率の比。
f) 指示値 (indication) サーベイメータの計数（率）指示値。
g) 指示誤差 (indication error) 表面放出率に機器効率を乗じた計数率を基準計数率Mtとしたときの，指示値Miと基準計数率との差。Mi−Mtとする。
h) 相対指示誤差 ( I )（relative error of indication） 指示誤差と基準計数率との比。